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材料热处理学报, 2017, 38(4): 25-31.
退火温度对Ti/IrO2-Ta2O5电极的结构和电容性能的影响

罗彦兰 1, , 于文泰 2, , 李彦泽 3, , 邵艳群 4, , 唐电 5,

1.福州大学材料科学与工程学院,福建福州,350108;
2.福州大学材料科学与工程学院,福建福州,350108;
3.福州大学材料科学与工程学院,福建福州,350108;
4.福州大学材料科学与工程学院,福建福州,350108;
5.福州大学材料科学与工程学院,福建福州,350108
采用热分解法在Ti基体上制备了Ti/IrO2-Ta205氧化物电极涂层.采用X射线衍射、循环伏安、恒流充放电、交流阻抗等方法对其组织结构和电化学性能之间的关系进行了详细研究.结果表明:温度低于350℃的电极以非晶态的形式存在,当温度为370℃时,金红石衍射峰出现,说明在350～370℃范围为电极的临界结晶温度区间.370℃下制备的电极具有最大的积分电量,电量损失率最小,比电容达到最大值,为239.2 F/g.随温度升高,电荷转移电阻Rct总体呈下降趋势.
引用： 罗彦兰, 于文泰, 李彦泽, 邵艳群, 唐电 退火温度对Ti/IrO2-Ta2O5电极的结构和电容性能的影响. 材料热处理学报, 2017, 38(4): 25-31. doi: 
参考文献：

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