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冶金分析 , 2017, 37(6): 69-74.
10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010112
微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁硅铝磁芯中铝和硅

吴永明 1, , 陶武 2, , 杨倩倩 3, , 杜效 4, , 王继龙 5, , 郭飞飞 6,

1.北京科技大学化学分析中心,北京,100083;
2.北京科技大学化学分析中心,北京,100083;
3.钢铁研究总院,北京,100094;
4.钢铁研究总院,北京,100094;
5.钢铁研究总院,北京,100094;
6.钢铁研究总院,北京,100094
使用盐酸-硝酸-氢氟酸并采用微波消解法处理样品,选择Al 308.215 nm和Si 212.412 nm作为分析线,基体匹配法配制标准溶液系列绘制校准曲线,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铝和硅,从而建立了微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铁硅铝磁芯中铝和硅的方法.结果表明,铝和硅的质量分数分别为1.00%~9.00%和2.50%~12.50%时与其发射强度呈线性,线性相关系数均不小于0.999 4;方法中铝和硅的检出限分别为0.020%和0.021%(质量分数).实验方法应用于铁硅铝磁芯样品中铝和硅的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=6)为1.4%~2.2%;将测定结果与滴定法(测定铝)和重量法(测定硅)的测定结果进行比对,二者相吻合.
引用： 吴永明, 陶武, 杨倩倩, 杜效, 王继龙, 郭飞飞 微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁硅铝磁芯中铝和硅. 冶金分析 , 2017, 37(6): 69-74. doi: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010112
参考文献：

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