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影像科学与光化学 , 2017, 35(2): 140-146.
10.7517/j.issn.1674-0475.2017.02.140
用于天文成像探测的IRFPA性能参数测试

冯志伟 1, , 杨潇 2, , 白先勇 3, , 段帷 4, , 宋谦 5, , 吴宏 6, , 张志勇 7,

1.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院太阳活动重点实验室,北京100012;中国科学院天文光学重点实验室,北京100012;
2.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院太阳活动重点实验室,北京100012;
3.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院太阳活动重点实验室,北京100012;
4.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院天文光学重点实验室,北京100012;
5.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院天文光学重点实验室,北京100012;
6.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院天文光学重点实验室,北京100012;
7.中国科学院国家天文台,北京100012;中国科学院太阳活动重点实验室,北京100012
天体的红外成像探测在天文学领域中有其特殊和重要的作用,高性能红外探测器是红外天文观测的关键器件,因此红外焦平面阵列探测器性能参数的测试评价对于红外天文观测具有非常重要的意义.针对天文应用的特殊性,通过分析红外焦平面阵列(Infrared focal plane array,IRFPA)探测器的特点,给出了增益、读出噪声、线性和暗流等性能参数的测试原理和方法,建立了测试平台,该测试平台可实现1～14 μm波长范围的IRFPA探测器性能参数测试;完成了一台采用国产3～5μm HgCdTe芯片研制的IRFPA探测器性能参数的测试.测试结果表明,该IRFPA探测器的线性度非常好,可以达到99.9％以上,但读出噪声和暗电流较大,与国外为天文观测研制的高性能探测器相比尚有很大的差距.
关键词： 天文   IRFPA探测器   性能参数
引用： 冯志伟, 杨潇, 白先勇, 段帷, 宋谦, 吴宏, 张志勇 用于天文成像探测的IRFPA性能参数测试. 影像科学与光化学 , 2017, 35(2): 140-146. doi: 10.7517/j.issn.1674-0475.2017.02.140
参考文献：

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