利用有效媒质理论对纳米金属薄膜介电函数的初步分析

金属学报, 2000, 36(11): 1165-1168. doi: 10.3321/j.issn:0412-1961.2000.11.010

利用有效媒质理论对纳米金属薄膜介电函数的初步分析

杜昊 ^1, , 肖金泉 ^2, , 谭明晖 ^3, , 孙超 ^4, , 黄荣芳 ^5, , 闻立时 ^6,

1.中国科学院金属研究所,沈阳,110015

2.中国科学院金属研究所,沈阳,110015

3.中国科学院金属研究所,沈阳,110015

4.中国科学院金属研究所,沈阳,110015

5.中国科学院金属研究所,沈阳,110015

6.中国科学院金属研究所,沈阳,110015

关键词：纳米薄膜 , 介电函数 , 有效媒质理论

INITIAL ANALYSIS OF EFFECTIVE MEDIUM THEORY TO DIELECTRIC FUNCTION CHANGE OF NANOMETAL FILM

利用有效媒质理论描述了纳米金属薄膜形成过程中介电函数的变化规律.与实验获得的纳米Al和Ti薄膜形成过程中的介电函数变化结果相接近.

参考文献

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[2]	Wen L S. Physics Basis of Solid Materials Interface Research. Beijing: Science Press, 1991:23(闻立时.固体材料界面研究的物理基础.北京:科学出版社,1991:23)
[3]	Stockman M I, Kurlayev K B. Phys Rev, 1999; B60:17071
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