松散钛屑中微小夹杂X射线检验研究

金属学报, 2002, 38(z1): 694-696. doi: 10.3321/j.issn:0412-1961.2002.z1.217

松散钛屑中微小夹杂X射线检验研究

魏惠元 ^1, , 鲁阳 ^2, , 陈百锁 ^3, , 马小怀 ^4,

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关键词： X射线检验 , 钛锭 , 起弧料 , 钛屑 , 夹杂

X-RAY TESTING ON SMALL INCLUSEIONS IN LOOSE TITANIM CHIPS

针对TC4合金钛锭生产中所用钛屑起弧料在X射线检验照相中所存在的难题,本文提出底片象质改善方法,并进行了不同照相工艺对比实验.结果表明,采用小焦点尺寸的射线源、低速、微粒胶片,加用射线吸收块减小散射线剂量等技术措施,可提高底片对比度;对松装厚度为50-70 mm的螺旋形卷状钛屑试样,可检测出颗粒尺寸为0.25 mm的碳化钨高密度夹杂.

参考文献

[1]	吴玉兰,吴永昆.中国金属学会第二届无损检测年会论文集.1983:169
[2]	[日]日本无损检测协会编.李衍译.射线探伤B.北京:机械工业出版社,1988;118

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