Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能

金属学报, 2003, 39(7): 775-780. doi: 10.3321/j.issn:0412-1961.2003.07.020

Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能

陈志武 ^1, , 胡乔生 ^2, , 张颖 ^3, , 程璇 ^4, , 张熹燕 ^5,

1.厦门大学材料科学与工程系，厦门 361005 华南理工大学电子材料科学与工程系，广州 510640

2.赣南师范大学化学系，厦门 361005

3.厦门大学材料科学与工程系，厦门 361005

4.厦门大学化学系，厦门 361005

5.西南交通大学材料工程系，成都 610031

关键词：相变光盘 , 记录介质 , 热力学参数 , 光学 , 薄膜

Thermodynamic Parameters, Microstructures and Optical Properties of Sb-Se-Based and Ge-Sb-Te-Based Phase Change Optical Disc Recording Media

利用DSC，X射线衍射及分光光度计，对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究．结果表明，Sb-Se系非晶态的光稳定性很不理想，随着波长的改变，反射率变化太快．对于Ge-Sb-Te系的两种成分合金，在各种波段处都有较大的反衬度，其非晶态的光稳定性也比较理想，随着波长的改变，反射率变化不大．

参考文献

[1]	Rong A L, Situ H, Zhang Z L. Theory, Technology and System Design of Optical Recording Media Beijing: Defence Industry Press, 1993:45(戎霭伦，司徒活，张忠麟．光信息存储的原理、工艺及系统设计．北京：国防工业出版社，1993：45)
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