根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法,探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用.CR电路拟合稳定性较高,对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律,导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响.对于阻挡性不完整的薄涂层,在-定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f*变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关,但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化,并解释了其原因.
参考文献
[1] | Cao C N, Zhang J Q. An Introduction to Electrochemical Impedance Spectroscopy, Beijing: Science Press, 2002(曹楚南,张鉴清.电化学阻抗谱导论,北京:科学出版社,2002) |
[2] | González S, Gil M A, Hernández J O, Fox V, Sout R M.Prog Org Coat, 2001; 41:167 |
[3] | Sun Q X, Zhang J Q, Lin C J. Acta Phys-Chim Sin, 2004;1:70(孙秋霞,张鉴清,林昌健.物理化学学报,2004;1:70) |
[4] | Santágtate D M, Reré P R, Elsner C I, Di Sarli A R. Prog Org Coat, 1998; 33:44 |
[5] | Jiménez-Morales A, Galván J C, Aranda P A. Electrochim Acta, 2002; 47:2281 |
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