本文用粉末压片法制样, XRF分析纳米粉ZrO2-CeO2-La2O3中主、次量元素, 研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响. 随着粉碎时间的延长和压力的增大, 元素的荧光强度逐步上升, 最后达到一个坪区. 在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉, 其荧光强度却没有明显的差别. 因此认为, 纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素.
参考文献
| [1] | Tertian R, Claisse F. Principles of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis. Heyden & Son Ltd, London, 1982. |
| [2] | Claisse F, Samson C. Adv. X-Ray Anal. 1962, 5: 335-354. |
| [3] | Ma G Z, Li G H. X-Ray Spectrom. 1989, 18: 199-205. |
| [4] | Shi J L, Lin Z X, Qian W J, Journal of the European Ceramic Society. 1994, 13: 265-273. |
| [5] | 李懋强. 粉体技术. 1998, 4 (1): 19-24. |
| [6] | 田明原,施尔畏,仲维卓等(TIAN Ming-Yuan, et al). 无机材料学报(Journal of Inorganic Materials), 1998, 13 (2): 129-137. |
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