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在X射线衍射结果的基础上,采用极图法研究了AlN薄膜以(002)和(100)面的取向分布,发现在一定条件下制备的AlN(002)有很强的织构,并通过极图法来确定X射线衍射所无法确定的AlN(100)面择优取向薄膜中各晶粒c轴间的关系.

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