用传统的烧结法,经850～950.C预烧和1050～1090.C烧结,制备了CaCu3Ti4O12巨介电常数陶瓷,通过X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)分别对体系进行了结晶性能和形貌测试,用阻抗分析仪对试样在50～300K温区范围内介电性能进行了测试.研究结果表明,CaCu3Ti4012结晶完整性、晶界及缺陷对其巨介电常数的大小、出现低介电常数向高介电常数转变时对应温度的高低有直接的影响.在950.C预烧和1090.C下烧结的样品要比880.C预烧和1050.C下烧结样品出现极化子松弛时对应的温度下降约70K,介电常数相对提高约300%,在较大的温区范围具有高的介电常数.材料的结晶越完整,由低到高介电常数的转变速度越快.
参考文献
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