过饱和度是影响DKDP晶体生长和质量的关键因素.本文采用"点籽晶"快速生长技术在不同的过饱和度下从氘化程度为75%的溶液中生长DKDP晶体并选取部分样品进行同步辐射X射线形貌术和粉末X射线衍射测试.研究了不同过饱和度下DKDP晶体的生长和缺陷.实验证明,DKDP晶体可以在<4℃的过饱和度下实现快速生长,但晶体的缺陷随着过饱和度的增大而增加.
参考文献
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