通过对磁感生应变和磁增强相变应变的测量,研究了Ni50.5Mn26.5Ga23单晶磁感生应变的温度依赖性和磁控形状记忆效应.结果表明,随着温度的降低;Ni50.5Mn26.5Ga23单晶的饱和磁感生应变量先是迅速减小,然后缓慢减小;磁场的方向不同,随着温度降低饱和磁感生应变量减小的速度也不同.根据合金形状记忆的特点和马氏体变体择优取向的机理,对实验结果进行了分析和讨论.
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