铂粉物理特性对厚膜铂电阻温度系数的影响

稀有金属, 2005, 29(4): 465-467. doi: 10.3969/j.issn.0258-7076.2005.04.019

铂粉物理特性对厚膜铂电阻温度系数的影响

陈峤 ^1, , 贺昕 ^2, , 朱晋 ^3, , 吴聪 ^4, , 李治宇 ^5,

1.北京有色金属研究总院,有研亿金新材料股份有限公司,北京,100088

2.北京有色金属研究总院,有研亿金新材料股份有限公司,北京,100088

3.北京有色金属研究总院,有研亿金新材料股份有限公司,北京,100088

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关键词：铂粉 , 厚膜铂电阻 , 温度系数

Effect of Performance of Platinum Powder on TCR of Thick Film Platinum Resistance

采用化学还原方法制备3种超细铂粉, 通过对铂粉物理特性的测试和微观结构分析, 解释了引起电阻温度系数(TCR)变化的原因. 发现粒度分布为0.1～0.6 μm, 比表面积1.45 m2·g-1, 松装密度0.85 g·cm-3, 表面光滑的2#球形铂粉,用于制作厚膜铂电阻温度传感器生产工艺可行,电阻温度系数达到380×106·℃-1,是一种理想的电阻材料.

参考文献

[1]	Yu Shougeng;Zhang Xiaomin;Liu Enuo.Proceedings of the fifteenth international precious metals conference and exhibition[C].Naples,Florida,1991:283.
[2]	Yu Shougeng;ZhangXiaomin;Liu Enuo.Proceedings of international conference on electronic components and materials/sensors and actuators[C].,1995:368.
[3]	韦群燕,李向群,俞守耕.银粉特性对银膜致密性的影响[J].贵金属,2001(03):35-38.

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