采用全自动多功能内耗测试仪(MFIFA),对高Tc氧化物La2CuO4+δ的低频内耗作了细致的研究.发现La2CuO4+δ在160K～430K温区有三个弛豫峰p1、p2、p3,并由变频实验求出它们的驰豫激活能.在激活能分析基础上,我们认为:p1、p2峰源于氧空位的驰豫跃迁,p3峰则源于氧间隙原子的驰豫跃迁.
参考文献
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