介质谐振器法测量超导微波表面电阻

低温物理学报 , 1999, 21(6): 438-441. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.1999.06.010

介质谐振器法测量超导微波表面电阻

李伟华 ^1, , 黄贺生 ^2, , 曹必松 ^3, , 朱美红 ^4, , 张雪霞 ^5, , 张留碗 ^6, , 吴振一 ^7, , 周岳亮 ^8, , 何萌 ^9, , 陈正豪 ^10,

1.清华大学现代应用物理系,北京,100084

2.清华大学现代应用物理系,北京,100084

3.清华大学现代应用物理系,北京,100084

4.清华大学现代应用物理系,北京,100084

5.清华大学电子工程系,北京,100084

6.清华大学现代应用物理系,北京,100084

7.清华大学现代应用物理系,北京,100084

8.中国科学院物理研究所,北京,100080

9.中国科学院物理研究所,北京,100080

10.中国科学院物理研究所,北京,100080

DIELECTRIC RESONATOR METHOD FOR MEASUREMENT OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF SUPERCONDUCTING THIN FILMS

高温超导薄膜材料在微波器件中应用的出发点主要是利用它在临界温度下极低的表面电阻.因此要对超导器件性能作出准确的评估,必须精确测量超导薄膜的微波表面电阻.本文提出了利用蓝宝石介质圆柱的TE011谐振模式来测量超导微波表面电阻的一种方法.设计并制作了工作于18.9GHz和17.6GHz的两种高Q值谐振器.其在测试中表现出了相当高的灵敏度.同时具有不损坏被测薄膜,安装调试简单方便,可重复性好的优点.可用于测量尺寸不小于Ф10mm的超导薄膜.

参考文献

[1]	陈振国.微波技术基础与应用[M].北京:北京邮电大学出版社,1996:151.
[2]	Shen Zhi-Yuan.High-Temperature Superconducting Microwave Circuits[M].Artech House,1994:232.
[3]	Shen Zhi-Yuan;C Wilker;P Pang .High Tc superconductor-sapphire resonator with extremely high Q-value up to 90K[J].IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest,1992,1:193-196.
[4]	扎景海 .高温超导微波表面阻抗测量[D].硕士论文,1992.

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