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为研究超大磁阻材料的掺杂效应,我们测量了(La1-xYx)2/3Ca1/3MnO3系列样品的正电子寿命谱,并结合X射线衍射和电阻温度关系的测量结果,系统地研究了Y掺杂引起的样品局域电子结构和空位型缺陷的变化,并提出了局域电荷转移的观点,解释正电子体寿命的变化.

参考文献

[1] 戴道生;熊光诚;吴恩诚 .[J].物理学进展,1997,17:201.
[2] T McMullen;P Jena;et at .[J].Physical Review,1991,43(13)
[3] P Hautojarvi;C Corbel;A Dupasquier;A P Mills Jr.Positron spectroscopy of solids[M].IOS,Oshama,1995:491.
[4] Y C Jean et al.[J].Physical Review Letters,1990,64(1593)
[5] X.Y.Zhou et al.Positron Lifetime Study on Cd-Doped Pb-1212[J].Oxides phys stat sol(b),1997,204:757.
[6] T McMullen;P Jena;et at .[J].Physical Review,1991,43(13)
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