Pb(Zr0.6Ti0.4)O3/YBa2Cu3O7-x双层结构的制备及其特性的研究

低温物理学报 , 2000, 22(6): 428-432. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.2000.06.005

Pb(Zr0.6Ti0.4)O3/YBa2Cu3O7-x双层结构的制备及其特性的研究

顾大振 ^1, , 傅泽禄 ^2, , 刘雷 ^3, , 刘庆国 ^4, , 冯一军 ^5, , 康琳 ^6, , 吉争鸣 ^7, , 杨森祖 ^8, , 张志刚 ^9, , 王业宁 ^10,

1.南京大学电子系,微结构科学技术高等研究中心,南京,210093

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基金项目: 科技部科研项目国家超导技术联合研究开发中心资助项目

INVESTIGATION ON THE GROWTH AND ELECTRICAL PROPERTIES OF Pb(Zr0.6Ti0.4)O3/YBa2Cu3O7-x BILAYER STRUCTURE

我们通过脉冲激光淀积的方法在Y-ZrO2衬底上原位生长了Pb(Zr0.6T i0.4)O3/YBa2Cu3O7-x双层薄膜,在此样品上利用电子探针分析了成分,X衍射谱证实了两层薄膜为单取向生长.对Pb(Zr0.6Ti0. 4)O3薄膜的铁电性质进行了测试,得到了典型的电滞回线,并对介电常数和损耗角正切值随频率变化进行了测量.INVESTIGATION ON THE GROWTH AND ELECTRICAL PROPERTIES OF Pb(Zr0.6Ti0.4)O3/YBa2Cu3O7-x BILAYER STRUCTURE

参考文献

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