超导双面膜Tc与Jc的无损测量系统

1.中国科学院物理所,北京,100080中国科学院声学所,北京,100080

2.中国科学院物理所,北京,100080

3.中国科学院物理所,北京,100080北方工业大学,北京,100041

4.中国科学院物理所,北京,100080

5.北京有色金属研究总院,北京,100088

6.中国科学院物理所,北京,100080

NON-DESTRUCTIVE DETERMINATIONSYSTEM OF CRITICAL PARAMETERSOF DOUBLE-SIDED HTSC THIN FILMS

利用高温超导体磁屏蔽原理研制了一种双面超导薄膜的临界参数无损测量系统.该系统有29个传感器,可以无损地测出双面薄膜中的任一面的临界参数(Tc、Jc)值.该系统用液氮冷却.可测量最大薄膜直径为75mm.全系统由计算机实现自动控制.

[1]	H Hochmuth;M Lorenz .[J].Physica,1994,C220:209-214.
[2]	H Hochmuth;M Lorenz .[J].Physica,1996,C265:335-340.

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