本征Josephson结的表面结的特性研究

低温物理学报 , 2005, 27(2): 154-158. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.02.010

本征Josephson结的表面结的特性研究

杨莉 ^1, , 许伟伟 ^2, , 董晔 ^3, , 郭大元 ^4, , 尤立星 ^5, , 阎生超 ^6, , 吴培亨 ^7,

1.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

2.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

3.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

4.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

5.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

6.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

7.南京大学电子科学与工程系超导电子研究所,南京,210093

基金项目: 国家高技术研究发展计划(863计划)(2002AA306451、2002AA306181)

关键词： Josephson结 , 本征结 , 表面结 , 高温超导

RESEARCH OF PROPERTIES OF SURFACE JUNCTION IN INTRINSIC JOSEPHSON JUNCTIONS

在用Bi2Sr2CaCu2O8+δ(BSCCO)单晶制备本征结时,最上面的Cu-O层由于受到所沉积的金属层的影响,其超导性能将发生退化,从而使得表面上两个邻近的Cu-O层形成的表面结具有不同于内部本征结的性质.我们对表面结的I～V、Ic'～T、R～T等电运输特性进行了分析和研究,发现表面结的临界温度Tc通常都比较低,而且临界电流随温度的变化关系也不同于正常本征结.并且利用旁路电阻的方法,成功观察到了被旁路后表面结的ac Josephson效应.

参考文献

[1]	Nam Kim;Yong-Joo Doh et al.[J].Physical Review,1990,B59:14639.
[2]	S H Liu;R A Klemm .[J].Physical Review,1990,B52:9657.
[3]	Yong-Joo Doh;Hu-Jong Lee et al.[J].Physical Review,1990,B61:3620.
[4]	Yong-Joo Doh et al.[J].Physical Review,1990,B61:3834.
[5]	Y Tanaka;S Kashiwaya .[J].Physical Review,1997,B56:892.
[6]	V Ambegaokar;A Baratoff .[J].PHYSICAL REVIEW LETTERS,1963,11:104.
[7]	W Walkenhorst;G Hechtfischer et al.[J].Physical Review,1975,B56:8396.

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