欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

我们测量了La2-xMxCuO4 (LMCO,M=Sr,Ba,x=0.05,0.10,0.125,0.15,0.2)体系的室温正电子寿命谱,研究了正电子湮没机制与超导电性之间的关系.实验结果表明在x=1/8附近电子密度(ne)出现峰值响应,说明在掺杂浓度不断增加的过程中,当x<1/8时,正电子-空穴反关联起决定性的作用,而在x>1/8时,化学掺杂引起的电子损失是决定电子密度的最重要的原因.

参考文献

[1] Billings S J;Kwei H G;Lawson A C .[J].Physical Review Letters,1993,71:1903-1906.
[2] Zhou JS.;Goodenough JB. .ELECTRON-LATTICE COUPLING AND STRIPE FORMATION IN LA2-XBAXCUO4[J].Physical Review.B.Condensed Matter,1997(10):6288-6294.
[3] Jean Y C;Sundar C S;harathi A B .[J].Physical Review Letters,1990,64:1593-1596.
[4] Hautojarri P Positrons in solid[M].Berlin:Springer-Verlag,1979
[5] Bharathi A;Janaki J;Vasumathi D .[J].Physica C,1989,162-164:1309-1310.
[6] B Chakraborty .[J].Physical Review B,1989,39:215-2.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%