微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析

低温物理学报 , 2005, 27(z1): 711-716. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.063

微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析

吉争鸣 ^1, , 吴培亨 ^2, , 许伟伟 ^3, , 孙国柱 ^4, , 郭大元 ^5,

1.南京大学电子科学与工程系,南京,210093

2.南京大学电子科学与工程系,南京,210093

3.南京大学电子科学与工程系,南京,210093

4.南京大学电子科学与工程系,南京,210093

5.南京大学电子科学与工程系,南京,210093

基金项目: 新材料领域项目(2002AA306181) 国家超导标准化技术委员会课题

关键词：高温超导薄膜 , 表面电阻 , 测量误差

THE MEASURING PRECISION ANALYSIS OF SURFACE RESISTANCE IN MICROWAVE BAND BASED ON IEC/TC90

由于超导薄膜的表面阻抗Rs这一参量对超导微波元件的设计和开发有很重要意义,测量超导薄膜的表面阻抗Rs也就非常重要.目前国际上制定了高温超导薄膜在微波波段上表面阻抗Rs电特性的标准测量方案:IEC/TC90.此方案采用介质杆谐振器法测量表面阻抗的原理,使用蓝宝石介质杆和超导膜组成的谐振器法测量超导膜的Rs.本文分析了各个测量量对标准测量方案的测量精度,分析了在12GHz微波频率下,系统的各个实际部件的加工误差.认为频谱曲线的测量误差,即背景误差对最终测量结果Rs的影响是主要的.

参考文献

[1]	IEC/TC-90:INTERNATIONAL STANDARD Superconductivity-Part 7[S].
[2]	沈致远;盛克敏;王素玉.高温超导微波电路[M].北京:国防工业出版社,2000
[3]	周清一.微波测量技术[M].北京:国防工业出版社,1964
[4]	许华嵘,吴立勇,施建荣,曹春海,蔡卫星,孙国柱,王相元,钱鉴,杨森祖,吉争鸣,程其恒,吴培亨.Rs标准测量系统的研究及其误差讨论[J].低温物理学报,2002(04):268-275.

上一张下一张

计量

下载量()
访问量()

作者相关

文章评分

您的评分：
1

0%
2

0%
3

0%
4

0%
5

0%

材料期刊网

微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析

THE MEASURING PRECISION ANALYSIS OF SURFACE RESISTANCE IN MICROWAVE BAND BASED ON IEC/TC90

参考文献