研究了应用X射线荧光光谱法测定稀土精矿中RExOy,TFe,CaO,P,BaO,ThO2等的含量.采用熔融法制样,X射线荧光光谱仪测定强度,以自洽校正法进行基体干扰校正,方法准确度良好.
参考文献
| [1] | Rtertian;刘珍荣.X射线荧光分析译文集[M].北京:地质出版社,1981:197. |
| [2] | WORKING DRAFTISO/TC102/SC2/WG27A-10-1[Z]. |
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