研究了用X射线荧光光谱法测定密闭鼓风炉炉渣,样品直接压片不经化学处理.用经验系数法校正试样的基体效应.以密闭鼓风炉工艺生产过程中采集的样品制备的标样,其浓度与X射线强度的线性相关系数均在0 .98以上,测定结果与化学法结果相符.相对标准偏差均低于3.16%.
参考文献
[1] | 高新华;刘飞鸣;高福家 .[J].光谱学与光谱分析,1996,16(06):102. |
[2] | 谢钟信.X射线光谱分析[M].北京:科学出版社,1982 |
[3] | 高军;刘迪 .[J].冶金分析,1998,18(04):47. |
[4] | 清华大学分析化学教研室.现代仪器分析[M].北京:清华大学出版社,1983:477. |
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