对X射线荧光光谱测定氧化铝中杂质元素的方法进行了研究.利用系列标准样品制作工作曲线,采用混合熔剂四硼酸锂加偏硼酸锂(12+22)熔融制样法分析了SiO2,Fe2O3,Na2O,制备熔片的稀释比为1∶3;直接压片制样法分析了TiO2,V2O5,P2O5,ZnO.SiO2,Fe2O3,Na2O,TiO2,V2O5,P2O5,ZnO测定结果的RSD分别为2.61%,2.61%,2.33%,4.62%,8.24%,8.00%和1.79%.该方法用于氧化铝生产控制及产品分析,数据准确、可靠,结果令人满意.
参考文献
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| [2] | AS2879.AS2879.7-1997,Determination of trace elements-wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method[S]. |
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| [4] | YS/T 409-1998.YS/T 409-1998.有色金属产品分析用标准样品技术规范[S].,1999-06-01. |
| [5] | GB 4882-1985.GB 4882-1985.数据的统计处理和解释 正态性检验[S].,1985-10-01. |
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