用X射线荧光光谱仪,测定中,低合金钢中Si,Mn,P,S,Cr,Ni,Cu,V,Ti,Mo,As等12个化学元素.给出了各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数.方法准确,灵敏,稳定性好,速度快.
参考文献
[1] | 谢忠信;赵宗铃;张玉斌.X射线荧光分析[M].北京:科学出版社,1982:249. |
[2] | 吉昂;陶光仪;卓尚军;罗立强.X射线荧光光谱分析[M].北京:科学出版社,2003:112. |
[3] | 卢钟录;符宁;宋纯智.实用冶金分析方法与基础[M].沈阳:辽宁科学技术出版社,1990:651. |
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