采用离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中Cr,Si和P,能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确.当Cr,Si,P的质量分数分别为66.04%,0.64%,0.016%,其相对标准偏差分别为0.18%,3.12%,6.25%.该法测定值与化学值相比,一致性较好,能满足常规分析要求.
参考文献
[1] | Aurao G;Maria Dorado;Carlos J Rivero;Isabel G .Xray fluorescence analysis of ferroallys:develop of methods for the preparation od test and calibration samples[J].Analyst,1994,119:421-426. |
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