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采用电感耦合等离子体原子发射光谱法对工业硅中11种化学成分进行系统的不确定度分析,阐述了测定过程不确定度的主要来源,对各不确定度分量进行了量化计算,提出了量化过程所需各参数的采集和统计计算方法,得出合成标准不确定度、扩展不确定度及测定结果的置信区间.

参考文献

[1] 国家质量技术监督局计量司.测量不确定度评定与指南[M].北京:中国计量出版社,2000
[2] 柯瑞华.化学成分测量不确定度的评定[J].冶金分析,2004(01):63-68,72.
[3] JJF 1059-1999.JJF 1059-1999.测量不确定度评定与表示[S].
[4] GB/T 14849-1993.GB/T 14849-1993.工业硅化学分析方法[S].
[5] GB 12806-1991.GB 12806-1991.容量计量器具检定系统[S].
[6] 罗毅.化学统计学[M].北京:中国科学技术出版社,2001
[7] 陈维青,陈泽明.用ISO《测量不确定度表达指南》评估ICP-AES法测定不确定度[J].理化检验-化学分册,2003(01):28-32.
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