欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

采用常压金属有机物气相沉积法生长AlAs/GaAs周期性反射膜,并利用双晶X射线衍射、扫描电子显微镜和记录式分光光度计等分析手段,对材料结构及光学性质进行了分析.实验结果表明,在780℃连续生长的薄膜结构和晶体质量都很好,但是反射率低;通过模拟计算,连续生长存在渐变层,而渐变层大大降低了反射率;在同样生长条件下间断生长得到较高反射率的薄膜材料.

参考文献

[1] Tompa G S et al.[J].Ⅲ-Vs Review,1994,7(03):12-17.
[2] Dupuis R D;Deppe D G;Pinzone C J .[J].Journal of Crystal Growth,1991,107:790-795.
[3] Kato T et al.[J].Journal of Crystal Growth,1991,107:832-835.
[4] IBARAKI A et al.[J].Journal of Crystal Growth,1988,93:809-813.
[5] Lee W I .[J].Applied Physics Letters,1995,67(25):3753-3755.
[6] Hong M et al.[J].Journal of Crystal Growth,1991,111:1071-1075.
[7] 徐现刚.第三届全国MOCVD会议论文集[C].,1993:89.
[8] 王玉田;庄岩 .[J].激光集锦,1994,4(05):10/11.
[9] 王之江.光学技术手册[M].北京:机械工业出版社,1994:270-273.
[10] Sadao Adachi .[J].Journal of Applied Physics,1985,58(03):18-25.
[11] A R 亚当斯;周章文.砷化镓的性质[M].北京:科学出版社,1990:65.
[12] Instruction Manual for the Specular reflectance Accessory for the Recorderspectrophotometer[M].,1988
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%