用双氧水对CdSe单晶(110)表面进行钝化,采用X射线光电子能谱(XPS)分析了湿氧处理的CdSe(110)表面的化学特征.通过两次不同分析模式FAT(固定通能)和FRR(固定减速比)所得到的结果表明:CdSe表面出现Se偏析,表面上形成了SeOx(x<1),SeO、Cd(OH)2和CdCO3的高电阻稳定氧化层,消除了器件表面态,可以减少器件的表面漏电流和改善其信噪比.
参考文献
[1] | 金应荣,朱世富,赵北君,王雪敏,宋芳,李奇峰,何福庆,彭秀峰,龙先灌.CdSe核辐射探测器的噪声与漏电流[J].半导体学报,2002(08):835-839. |
[2] | Taylor Jason .Surface Stoichiometry of CdSe Nanocrystals[A].Materials Research Society Symposium,-Proceedings,1999,536:413-418. |
[3] | Wagner C D;Riggs W M;Davis L E.Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy[M].Perkin-Elemer Crop,1980 |
[4] | 刘朝旺.用XPS对CdTe(111)面进行化学特性分析[J].红外技术,1994(05):6. |
[5] | 金振声,薛锦珍,陈正石,杨廷录.空气中含 17O、18O的氧分子在CdO表面的富集[J].化学物理学报,2001(02):237-245. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%