致冷致热半导体在功能材料测试环境中的应用

物理测试, 2001, (6): 33-35. doi: 10.3969/j.issn.1001-0777.2001.06.010

致冷致热半导体在功能材料测试环境中的应用

孙涛 ^1, , 王振清 ^2,

1.北京航空航天大学,

2.北京航空航天大学,

关键词：模糊逻辑控制(FUZ) , 致冷致热半导体

Applying Electronic Peltier Module in Function Material Test

介绍采用了模糊逻辑控制原理的温度控制器,这种温度控制器使用小功率半导体器件.并给出如何用半导体器件去实现功能材料测试所需要的环境.

参考文献

[1]	李朝青.单片机原理及接口技术[M].北京:北京航空航天大学出版社
[2]	汪孝国.高精度PID温度控制器[J].电子与自动化,2000(05)

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