氮化硅浆料的胶体特性研究

硅酸盐通报 , 1999, 18(6): 27-31. doi: 10.3969/j.issn.1001-1625.1999.06.006

氮化硅浆料的胶体特性研究

刘学建 ^1, , 黄莉萍 ^2, , 古宏晨 ^3, , 符锡仁 ^4,

1.中科院上海硅酸盐研究所,上海,200050

2.中科院上海硅酸盐研究所,上海,200050

3.华东理工大学技术化学物理研究所,上海,200237

4.中科院上海硅酸盐研究所,上海,200050

关键词：氮化硅 , 胶体特性 , 分散性

Studies on the Electrokinetics of Silicon Nitride Suspensions

本文研究了Si3N4浆料的胶体特性,结果表明:Si3N4悬浮粒子的等电点(isoelectric point,简称IEP)在pH=4.2处.分散介质的离子强度影响Si3N4粒子的Zeta电位.分散剂的引入有效地提高Si3N4粒子的Zeta电位,并引起IEP的位移.粉体经不同工艺的预处理后IEP均发生不同程度的位移.X光电子能谱(XPS)分析表面组成发现其IEP的位移与Si3N4粉体表面的氧化程度有关.同时,对Si3N4浆料在不同条件下的分散性进行了考察,表明其分散性与胶体特性具有很好的一致性.

参考文献

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