用市售硅石、硅砖国家标准物质和SiO2基准试剂配制出一系列适当含量范围的标准样品,采用低稀释比玻璃熔片法,研究了高纯硅石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法,并且对熔剂种类、稀释比、熔样条件进行了系统研究.国家硅石标准物质的测定值与标准值相一致,应用于实际样品的测定并和化学法比较,分析结果也基本一致.该方法操作简单、快速,结果准确,精密度好,具有良好的实用性.
参考文献
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| [5] | 宋霞,胡坚.低稀释比玻璃融片法分析氧化铝中微量成分[J].冶金标准化与质量,2006(01):9-10,16. |
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