欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

采用直流磁控溅射沉积技术在不同工作气压下制备Mo膜,研究了工作气压对Mo膜的沉积速率、表面形貌及晶型结构的影响规律,研究表明:工作气压在0.1~0.5 Pa范围内,沉积速率基本保持不变,在0.5~1.5 Pa范围内沉积速率随工作气压的升高而增大;Mo膜的表面粗糙度随工作气压的升高而增加;不同工作气压下制备的Mo膜为立方结构,在较低工作气压下薄膜结晶性能较好.

参考文献

[1] Scofield JH.;Albin D.;Ballard BL.;Predecki PK.;Duda A. .SPUTTERED MOLYBDENUM BILAYER BACK CONTACT FOR COPPER INDIUM DISELENIDE-BASED POLYCRYSTALLINE THIN-FILM SOLAR CELLS[J].Thin Solid Films: An International Journal on the Science and Technology of Thin and Thick Films,1995(1):26-31.
[2] Vershinin N.;Gust W.;Straumal B. .VACUUM ARC DEPOSITION OF MO FILMS[J].Journal of Vacuum Science & Technology, A. Vacuum, Surfaces, and Films,1996(6):3252-3255.
[3] LOWELL Morgan W;DAVID B;BOERCKER .Simulating Growth of Mo/Si Multilayers[J].Applied Physics Letters,1991,69(10):1176-1178.
[4] Pinegyn, V;Zubarev, EN;Kondratenko, VV;Sevryukova, VA;Yulin, SA;Feigl, T;Kaiser, N .Structure and stressed state of molybdenum layers in Mo/Si multilayers[J].Thin Solid Films,2008(10):2973-2980.
[5] Nedelcu I;de Kruijs RWEV;Yakshin AE;Tichelaar F;Zoethout E;Louis E;Enkisch H;Muellender S;Bijkerk F .Interface roughness in Mo/Si multilayers[J].Thin Solid Films: An International Journal on the Science and Technology of Thin and Thick Films,2006(2):434-438.
[6] van de Kruijs RWE;Zoethout E;Yakshin AE;Nedelcu I;Louis E;Enkisch H;Sipos G;Mullender S;Bijkerk F .Nano-size crystallites in Mo/Si multilayer optics[J].Thin Solid Films: An International Journal on the Science and Technology of Thin and Thick Films,2006(2):430-433.
[7] 秦俊岭,邵建达,易葵,周洪军,霍同林,范正修.Mo/Si软X射线多层膜的界面粗糙度研究[J].强激光与粒子束,2007(05):763-766.
[8] 秦俊岭,邵建达,易葵.用不同的Mo靶溅射功率制备Mo/Si多层膜[J].强激光与粒子束,2007(01):67-70.
[9] 雷洁红;邢丕峰;唐永建 等.钼薄膜制备技术研究[J].云南大学学报(自然科学版),2009,31(z1):282-284.
[10] 杜凯,郑凤成,谢军.机械研磨法制备晶体密度钼膜技术研究[J].强激光与粒子束,2005(06):879-882.
[11] 李朝阳,邢丕峰,易泰民,杨蒙生.状态方程靶用钼薄膜精密轧制工艺研究[J].原子能科学技术,2009(10):956-960.
[12] 金春水,林强,马月英,裴舒,曹健林.均匀软X射线多层膜制备方法研究[J].强激光与粒子束,2003(05):444-446.
[13] 程丙勋,吴卫东,何智兵,许华,唐永建,卢铁城.溅射功率对直流磁控溅射Ti膜结构的影响[J].强激光与粒子束,2006(06):961-964.
[14] 袁玉珍,王辉,刘汉法,张化福,刘云燕.溅射功率对Zr, Al共掺杂ZnO薄膜结构和性能的影响[J].电子元件与材料,2010(02):48-50,61.
[15] 石旺舟,梁锐生,马学鸣,杨燮龙.溅射功率对Fe-Si-B-Nb-Cu薄膜微结构与磁性的影响[J].物理学报,2004(10):3614-3618.
[16] 刘志文,谷建峰,付伟佳,孙成伟,李勇,张庆瑜.工作气压对磁控溅射ZnO薄膜结晶特性及生长行为的影响[J].物理学报,2006(10):5479-5486.
[17] MAISSEL L I;GLANG R.Handbook of Thin Film Technology[M].New York:McGraw-Hill
[18] Ramesh Chandra;Amit Kumar Chawla;Davinder Kaur .Structural, optical and electronic properties of nanocrystalline TiN films[J].Nanotechnology,2005(12):3053-3056.
[19] 付淑英.溅射气压对磁控溅射TiN薄膜光学性能的影响[J].热处理技术与装备,2010(03):27-30,38.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%