SrBi2Ta2O9铁电薄膜的结构与性能研究进展

材料工程, 2001, (8): 44-47. doi: 10.3969/j.issn.1001-4381.2001.08.012

SrBi2Ta2O9铁电薄膜的结构与性能研究进展

王文 ^1, , 周玉 ^2, , 叶枫 ^3, , 贾德昌 ^4, , 宋桂明 ^5, , 雷廷权 ^6,

1.哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

2.哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

3.哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

4.哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

5.哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

6.哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

关键词： Sr Bi2Ta2O9 , 铁电薄膜 , 结构 , 性能

Progress in the Structure and Properties of Ferroelectric SrBi2Ta2O9 Thin Films

综述了Sr Bi2Ta2O9的结构和性能研究进展,着重阐明化学组成、结晶取向、热处理条件、使用温度对SrBi2Ta2O9铁电性能的影响.结果表明,以Bi4Ti3O12作为过渡层,采用快速热处理法,Sr:Bi:Ta=0.8:2.2:2时,有助于提高SBT薄膜的剩余极化值,降低矫顽场强和电流漏损.

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