采用X射线小角散射法(SAXS)和光子相关谱法(PCS)测试了纳米钨(W)粉的粒度分布.结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小.PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布.
参考文献
| [1] | 张立德;牟季美.纳米材料和纳米结构[M].北京:科学出版社,2001 |
| [2] | Bock A.Proceedings of the 14th Plansee-Seminar[M].Reutte,Austria,1997:437-439. |
| [3] | Xiang Y.;Zhang J.Y. .Verification for Particle Size Distribution of Ultrafine Powders by the SAXS Method[J].Materials Characterization,2000(4/5):435-439. |
| [4] | Jani P;Nagy A;Czitrovszky A.[A].San Francisco,USA,1999:458-459. |
| [5] | 李翔,戴亚堂,邓赟.用光子相关光谱法测定纳米TiO2粒度分布的分散方法研究[J].四川大学学报(工程科学版),2004(04):62-66. |
| [6] | 张晋远,郑毅,朱瑞珍.纳米体系粒度分布的X射线小角散射表征[J].现代科学仪器,2003(02):3-8. |
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