纳米复合镀层中纳米粉体含量的测定目前主要采用重量法和表面能谱分析法,而这2种方法都存在较大的局限性.提出采用紫外-可见分光光度法测定复合镀层中纳米SiO2 的含量.以pH＝1的HNO3溶液、NiSO4-HNO3溶液、CuSO4-HNO3溶液、ZnSO4-HNO3分别作为空白液来模拟复合镀层的溶解液.通过试验确定了测定波长,试验发现测定的标准曲线线性都非常理想.采用该法与重量分析法分别测定了待测液中纳米SiO2的含量,并对其误差进行了比较,结果表明该法的准确度高,其平均相对误差(1.05%)远远小于重量分析法,而且更省时.
参考文献
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