用解析方法研究了上、下基板锚定强度不同的弱锚定沿面排列向列液晶盒(不对称液晶盒),给出了指向矢倾角θ满足的方程和边界条件,讨论了它的解,导出Freedericksz转变的阈值场强和饱和场强.研究了由于上、下基板锚定强度不同而引起的对称性破缺,以及对称破缺和磁场强度之间的关系,发现了不对称液晶盒一些特殊的现象.作为应用的例子,讨论了一种测定基板锚定强度的新方法.
参考文献
| [1] | Shohei Naemura. Measurement of anisotropic interfacial interactions between a nematic liquid crystal and various substrates[J]. Appl.Phys.Lett., 1978,33:1-3. |
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| [3] | Guochen Y,Suhua Z. The first order freedericksz transition at saturation point for weak anchoring NLC cells[J]. Lid. Cryst., 2002,29:641-646. |
| [4] | 邵喜斌,张志东,郭建新,等.平行排列液晶盒在不对称弱锚定边界条件下的Freedericksz转变[J].液晶与显示,1997,12(4):249-257. |
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