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设计了一种方便测试OLED显示屏特性的驱动电路.用此驱动电路研究了与驱动方式相关的OLED显示屏特性即"串扰"、老化、击穿等,观测到与OLED"形成过程"相对应的"恢复过程".实验结果表明,通过对驱动电路采取适当的措施,能够减轻"串扰"和击穿对显示屏造成的影响,并延长显示屏的使用寿命.

参考文献

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