利用c8051f023单片机对点阵型液晶模块的低温测试

1.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039

2.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033

3.杭州信益科技有限公司,浙江,杭州,310012

4.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033

基金项目: 吉林省自然科学基金(20020625)

Low-temperature Test of Dot Pattern LCD Using c8051f023 Single-chip Microprocessor

介绍了点阵型液晶模块的动态驱动原理.以MFC-G160160DPEB-3W点阵型液晶模块为例,利用高速单片机c8051f023对其驱动控制.结合驱动时序,从硬件接口电路和软件设计两个方面对该测试实验进行了介绍.给出了驱动时序的程序流程图和实验结果.完成了液晶的低温测试实验.

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