欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

根据目前TFT模块的生产现状和需求,依据TFT模块的驱动和测试原理,以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因,设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源,该信号源可提供Gate Odd,Gate Even,Data,Vgg和Vcom 5路信号,此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4.6 cm(1.8 in),128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,且测试效果良好.

参考文献

[1] 李维諟,郭强.液晶显示应用技术[M].北京:电子工业出版社,2000:21-172.
[2] 张彤,郭小军,赵毅,等.a-Si TFT OLED有源驱动阵列参数的优化与布图设计[J].液晶与显示,2003,18(5):332-337.
[3] 杨虹,唐志勇,凌志华,等.VGA TFT-LCD驱动电路的设计[J].液晶与显示,2001,16(1):52-58.
[4] 徐杰,杨虹,郭树旭,等.TFT-LCD周边驱动电路集成化设计[J].液晶与显示,2004,19(1):42-47.
[5] 王骞,丁铁夫.基于FPGA的液晶显示驱动IP核的实现[J].液晶与显示,2005,20(4):324-327.
[6] Maxim.MAX303 datasheet[R].America:Maxim,1993.
[7] 李华,孙晓民,李红青,等.MCS-51系列单片机实用接口技术[M].北京:北京航空航天大学出版社,2001:133-228.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%