一种改进的C-V方法对向列相液晶弹性常数k11、k33测量的理论研究

液晶与显示 , 2007, 22(5): 587-590. doi: 10.3969/j.issn.1007-2780.2007.05.017

一种改进的C-V方法对向列相液晶弹性常数k11、k33测量的理论研究

孔祥建 ^1, , 荆海 ^2, , 黄霞 ^3, , 廖燕平 ^4, , 刘金娥 ^5,

1.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039

2.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130033;吉林北方彩晶数码电子有限公司,吉林,长春,130033

3.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039

4.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039

5.中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039

基金项目: 国家自然科学基金(60576056)

关键词：向列相液晶 , 电容-电压 , 弹性常数 , 预倾角 , 曲线拟合

Theoretical Research of Improved C-V Method to Measure k11 and k33 of Nematic Liquid Crystals

提出了一种更为准确的测量向列相液晶展曲、弯曲弹性常数的C-V方法.以正性液晶材料为例,当沿面排列的液晶分子预倾角不为零时,阈值电压值不易确定, k11的确定必定存在误差,而以前报道并未考虑到此问题.文章针对此问题给出了在强锚定条件下,预倾角不为零时C-V的关系式,并提出了通过曲线拟合来同时确定弹性常数k11、k33的方法.此方法对弹性常数的测量更为准确,液晶盒的制作要求降低,且测试简单、易操作.

参考文献

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