欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

通过对50余只808nm的GaAs/GaAlAs高功率单量子阱远结半导体激光器的老化实验观测,在老化初期(前520h),阈值电流随老化时间的延长而下降,下降幅度高达57mA,从1000h多的恒流电老化结果可以看出,器件的输出光功率在老化初期有所上升,随后,表现出按指数规律缓慢下降的行为.初步实验结果表明器件具有长寿命的潜力.

参考文献

[1] Yoshiji Horikoshi;Thkeshi Kobayashi;Yoshitaka Furukawa .[J].Japanese Journal of Applied Physics,1979,18(12):2237.
[2] Awlik J R P;Sang W T T;Nash F R et al.[J].Applied Physics Letters,1981,38(12):974.
[3] Sze S.Physics of semiconductor devices[M].New York:Wiley press,1969
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%