通过对50余只808nm的GaAs/GaAlAs高功率单量子阱远结半导体激光器的老化实验观测,在老化初期(前520h),阈值电流随老化时间的延长而下降,下降幅度高达57mA,从1000h多的恒流电老化结果可以看出,器件的输出光功率在老化初期有所上升,随后,表现出按指数规律缓慢下降的行为.初步实验结果表明器件具有长寿命的潜力.
参考文献
[1] | Yoshiji Horikoshi;Thkeshi Kobayashi;Yoshitaka Furukawa .[J].Japanese Journal of Applied Physics,1979,18(12):2237. |
[2] | Awlik J R P;Sang W T T;Nash F R et al.[J].Applied Physics Letters,1981,38(12):974. |
[3] | Sze S.Physics of semiconductor devices[M].New York:Wiley press,1969 |
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