材料期刊网

原子核物理评论 , 2002, 19(1): 70-72. doi: 10.3969/j.issn.1007-4627.2002.01.015

微处理器80C86及其外围芯片协合效应实验研究

张庆祥 ^1, , 杨兆铭 ^2,

关键词： 单粒子效应 , 总剂量效应 , 微处理器 , 外围芯片

Total Dose Dependence of SEE Sensitivities for Microprocessor 80C86 and Its Peripheral Chip 82C85