当样品含有多种能量的γ射线时,某一峰下的面积,不仅记录了该能量的光电效应事件,而且还包括了更高能量γ射线的Compton 散射事件.这样,就不能简单地由峰下面积确定相应的γ射线强度,采用逆矩阵法对γ能谱进行分析可得到较好的结果.
参考文献
| [1] | 刘庆兆.脉冲辐射场诊断技术.北京:科学出版社,1994, 173-184. |
| [2] | 欧阳晓平,李真富,霍裕昆等.高能物理与核物理,2001,25(11):1 100. |
| [3] | 王猛,郭忠言,詹文龙等.高能物理与核物理,2002,26(12):1 285. |
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