GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究

原子核物理评论 , 2007, 24(4): 309-312. doi: 10.3969/j.issn.1007-4627.2007.04.013

GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究

姚存峰 ^1, , 金运范 ^2, , 宋银 ^3, , 王志光 ^4, , 刘杰 ^5, , 孙友梅 ^6, , 张崇宏 ^7, , 段敬来 ^8,

1.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000;中国科学院研究生院,北京,100049

2.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000

3.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000

4.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000

5.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000

6.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000

7.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000

8.中国科学院近代物理研究所,甘肃,兰州,730000;中国科学院研究生院,北京,100049

基金项目: 国家自然科学基金(10175084;10675150)

关键词： C60薄膜 , 辐照效应 , GeV能量的离子 , 退火效应 , 聚合

Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions

利用傅立叶转换红外光谱和Raman谱仪分析了0.98 GeV的Fe离子在电子能损Se为3.5keV/nm时,不同辐照剂量(5×10(10)-8×10(13)ions/cm2)下,在C60薄膜中引起的辐照损伤效应.分析表明,Fe离子辐照引起了C60分子的聚合与损伤.在辐照剂量达到一中间值1×10(12)ions/cm2,C60分子的损伤得到部分恢复,归因于电子激发引起的退火效应.通过对Raman数据的拟合分析,演绎出Fe离子辐照在C60材料中形成的潜径迹截面或引起损伤的截面约为1.32×10(-14)cm2.

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