介观LC电路中电容、电感和外源流突变所产生的量子压缩

1.池州学院机械与电子工程系,安徽池州,247000

2.中国科学技术大学材料科学与工程系,安徽合肥,230026

基金项目: 安徽省青年自然科学基金(1308085QA18)、安徽省池州学院研究中心项目(XKY201424)

Quantum squeezing caused by abrupt change of capacity, inductance and external current source in quantized mesoscopic LC electric circuit

通过采用有序算符内的积分技术(IWOP技术),对介观LC电路量子化方案所得到的哈密顿量进行了分析,探讨了该方案下LC电路电容、电感、外源流在突变时所产生的量子压缩效应.结果标明:电容突变反映在正交组q呈现压缩效应;电感突变反映在另一正交相p呈现压缩效应;而外源流的非线性突变反映出来的是数-相压缩.

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