利用场发射扫描电镜、能量色散X射线分析、原子力显微镜与傅里叶转换红外光谱技术,对NF45纳滤膜的表面形态、孔径分布进行了分析研究,同时考察了大豆乳清液的纳滤膜污染特征.研究表明:NF45膜的孔径范围小于0.5*!nm,膜孔分布均匀,平均表面粗糙度为9.4*!nm,波峰高度是纳米级;而污染膜面基本表现为无数小葡萄球状的低聚糖类物质组成的块状,且污染物层分布很不均匀,波动很大,平均表面粗糙度为439.7*!nm,波峰高度是微米级的.
参考文献
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