本文提出了机械损伤和绝缘污染是导致大型框式线圈下线后耐压试验击穿的主要原因及解决办法.
参考文献
| [1] | 孙安根.我国多胶粉云母带的性能及水平分析[C].第六届绝缘材料与绝缘技术学术会议论文集,1996:308～315. |
| [2] | 电工绝缘手册[M].北京:机械工业出版社,1992 |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%