本文在较宽广的频率范围对XLPE电缆的损耗特性进行了实验研究.通过频谱分析发现,超低频介质损耗因数与电缆绝缘的水树劣化状态相关性较好.进而指出,对电缆实施超低频介质损耗因数检测对于XLPE电缆无损检测技术以及XLPE电缆本身的发展均有重要意义.
参考文献
| [1] | 屠德民.直流耐压试验对交联聚乙烯电缆绝缘的危害性[J].电线电缆,1997(05) |
| [2] | R Patsch;P Romero.Frequency Dependent Polarication Processes in Water Trees[A].Japan,1993 |
| [3] | Chen J.L.;Filippini J.C. .The morphology and behavior of the water tree[J].IEEE transactions on electrical insulation. (Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electrical Insulation Group). New York.,1993(2):271-286. |
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