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本文从气氛、热场、坩锅材料、埚位、埚转、晶转、变参数拉晶等几个方面论述了CZ硅单晶初始氧浓度和氧的轴向均匀性的控制方法,着重研究了变参数拉晶对氧的轴向均匀性控制的影响.

参考文献

[1] W Zulehner.Smiconductor Silcon[M].,1990:30.
[2] 佘思明.半导体硅材料学[M].中南工业大学出版社,1990:34.
[3] K E Benson;W Lin .[J].Journal of Crystal Growth,1990,99:654.
[4] H Hirata;K Hoshikawa .[J].Japanese Journal of Applied Physics,1980,19:1573.
[5] T Carlberf et al.[J].Journal of the Electrochemical Society,1982,129:189.
[6] 闵乃本.晶体生长的物理基础[M].上海:上海科学技术出版社,1982:64.
[7] A M J G Van Run .[P].U S Patent 4474641,1984.
[8] W Zulehner .[J].Journal of Crystal Growth,1983,65:189.
[9] Norihisa Machida et al.[J].Journal of Crystal Growth,1998,186:362.
[10] W J Patrick et al.[P].U S Patent 4010064,1977.
[11] F Seccod Aragona .[P].U S Patent 4545849,1985.
[12] A Murgai et al.[J].IBM Journal of Research and Development,1982,26:546.
[13] Isao Kanda et al.[J].Journal of Crystal Growth,1996,166:669.
[14] L E Katz;D W Hill .[J].Journal of the Electrochemical Society,1978,125:1151.
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